Le Bruker Contour GT-X est un microscope interférentiel en lumière blanche de très haute résolution. Avec une résolution verticale sub-nanométrique et une grande étendue de mesure, il est idéal pour la métrologie des surfaces. Le logiciel d’analyse permet d’obtenir des numérisations 2D et 3D de grande précision et d’en extraire les caractéristiques des échantillons analysés.
